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谈谈测试治具的区别和用途

谈谈测试治具的区别和用途

公布日期:2017-02-10 00:00 源头:http://www.parinivyas.com 点击:

     由于FCT测试治具的区别,CP和FT的差异点并不但是限于地点的工序时期差异,两者在遵从和遵从粉饰掩盖上都有着明白的区别,这些信息是每一个IC从业职工需求底子相识的。

4887香港铁算资料开奖小说     那多么一来,4887香港铁算资料开奖小说还需不需求CP测试?约莫在CP测试时期怎么对细致测试项目举行弃取呢?要回答这个标题,4887香港铁算资料开奖小说就必需对CP的意图有深化的相识.那CP的意图本相是啥呢?

4887香港铁算资料开奖小说     固然,实践上在CP时期也可以大约举行高速信号和高精度信号的测试,但这一样伟大需求采取专业的高速探针计划,如笔直针/MEMS探针等技能,这会大大增长硬件的资源.少数环境下,这在经济视点下去说是差异算的。

    依据国际惯例,紧张需求再标明一下啥是CP和FT测试.CP是(Chip Probe)的缩写,指的是芯片在wafer的时期,就颠末探针卡扎到芯片管脚上对芯片举行遵从及遵从测试,偶然偶然间这道工序也被称作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的缩写,指的是芯片在封装终了今落伍行的终极测试,只需颠末测试的芯片才会被出货。

     关于CP和FT的测试,我原来以为这个论题曾经是业界知识,不需求专门再谈了.不过前几天和一个设计公司的主管交流了一下,发现真实很多非测试专业的从业职工对这两个见地真实相识并不像我以为的那样深化.以是,我还是有必要在这里再谈一下。

4887香港铁算资料开奖小说     这关于高精度的信号丈量也会带来无量的影响.以是,一样伟大FCT测试治具只是用于底子的衔接测试和低速的数字电路测试。


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