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解读ICT治具的下风与生长趋向

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公布日期:2017-03-02 00:00 源头:http://www.parinivyas.com 点击:

    ICT治具相对来说有哪些下风?

4887香港铁算资料开奖小说  1、测试时间短:一片组装300个零件的电路板,测试时间短到3 ~ 4秒钟。

4887香港铁算资料开奖小说  2、重测性精良:由谋略机程控,准确量测,以是不会构成误判、漏测,增长斲丧线的困扰。 

  3、现场技术依存性低:只需稍加训练,一样伟大职员即可轻松应用及维护。 产品缝补资源大幅飞扬:一样伟大作业职员即可细致产品维修的变乱,有效的飞扬资源,对应产品寿命期短的趋向,是有效的利器。

    由于每一种技术都补偿另一技术的缺陷:从将AXI技术和ICT测试治具技术连合起来测试的环境来看,一方面,X射线紧张聚集在焊点的质量。它可确认元件可否存在,但不克不及确认元件可否准确,方向和数值可否准确。另一方面,ICT可决议元件的方向和数值但不克不及决议焊接点可否可承袭,格外是焊点在封装体底部的元件,如BGA、CSP等。随着AXI技术的生长,如今AXI体系和ICT体系可以“相互对话”,这种被称为“AwareTest”的技术能消弭两者之间的重复测试局部。

    颠末减小ICT/AXI多余的测试得救面可大大减小ICT的接点数量。这种简化的ICT测试只需原来测试接点数的30%就可以对峙如今的高测试得救范围,而淘汰ICT测试接点数可紧缩ICT测试时间、加快ICT编程并飞扬ICT夹具和编程用度。


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